| מיקרוסקופ אופטי | Optical Microscopy | בחקר הפולימרים מנצלים את העובדה כי האיזורים הגבישיים של החומר הם אנאיזוטרופים מבחינה אופטית. לכן, ניתן לזהות אותם באמצעות אור מקוטב. להבדיל, האיזורים האמורפיים הינם איזורים איזוטרופים מבחינה אופטית ולכן הם נבדלים מהאיזורים הגבישיים בטכניקה זו. באמצעות בדיקה זו ניתן לחלץ מידע אודות: גודל גבישים, פילוג גדלי גבישים, אחידות פיזור תוספים, הבחנה וזיהוי חומרים מזהמים. |
| מיקרוסקופ אלקטרונים סורק | Scanning Electron Microscopy (SEM) | טכנולוגיה זו מאפשרת אנליזת פני שטח של חומרים ברזולוציה בין 6 ל-20 ננוטמטר. באמצעות טכנולוגיה זו ניתן ללמוד ולחץ מידע על מורפולוגית הפולימר, קו-פולימר או תערובות פולימריות, מיקרו-מבנה רב-פזי של פולימרים, חספוס פני שטח, ציפויים אורגניים, פולימרים מוקצפים וכו'. |
| זיהוי יסודות ב-SEM | Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) | זיהוי הרכב יסודות על פני שטח בבדיקת SEM. |
| מיקרוסקופ AFM | Atomic Force Microscopy (AFM) | מיקרוסקופ כוח אטומי הינה טכניקת בדיקה עוצמתית אשר מאפשרת למפות בתלת מימד את פני השטח של כל חומר - פולימרים, קרמיקות, זכוכית, חומרים מרוכבים וכו'. באמצעות בדיקה זו ניתן לכמת וגם לאמוד את איכותם של מאפיינים פיזיים שונים כמו טקסטורת וקשיחות פני השטח, גדלי חלקיקים בין ננומטר בודד ועד שמונה מיקרומטר. |
